お探しのページはこちらでしょうか.
その他の検索結果:
何をお探しですか？
関連キーワード
No product matches found - System Exception
検索結果
U9401B Medalist i1000D
低コストのフィクスチャリングソリューションを利用して、バウンダリスキャン、シリアルプログラミング、VCL/PCFライブラリベースのデジタルテストをサポートするピン単位のプログラマブルデジタルカードを提供するインサーキットテスト(ICT)システム
スタート価格:
ハイライト
ピン単位のプログラマブル・デジタル・カードと直感的なソフトウェアで、プログラミングと開発を容易に行えます。 Medalist i1000Dは、そのデジタル機能により、デジタルPCF/VCLライブラリベースのテスト、バウンダリスキャン、I2C/SPIシリアルプログラミングを、長いケーブルを持つ単純で低コストのテストフィクスチャで実現します。 テストコストを上げずにより良いテストカバレージを得る
デジタルカバレージ
- i1000Dのデジタルサブシステムは、業界最先端のMedalist i3070 ICTの使いやすさと機能を活用して、テスト速度を調整したり、マウスを数回クリックするだけで電圧をドライブ／受信する性能を提供しています。
完全なバウンダリスキャン機能
- 一般的なバウンダリスキャン／コネクトテストからインターコネクトテストまで、あらゆるバウンダリスキャン機能を備え、ICTの性能をさらに強力にしています。
強力なデバッグインタフェース
- デジタル・デバッグ・ユーザー・インタフェースは、i3070の押しボタンデバッグGUIの制御性および柔軟性を継承し、デジタル・テスト・パラメータやテスト・ソース・コードを完全に制御することができます。
低コストのフィクスチャリング
- Medalist i1000Dは、従来のMDA型のロング・ワイヤード・プレス・ダウン・フィクスチャを使用して、デジタルテストを実行します。 バウンダリ・スキャン・テスト、シリアルプログラミング、ライブラリベーステストのテストを簡単に実行できます。 使い易く、効果的なテストソリューションでMDA型フィクスチャなので、低コストのフィクスチャを使用できます。
主な仕様
Fixture Actuation
Press down
形状
Complete Test System
最大ノード・カウント
3456
Max Parallel Testing
1
System Type
Offline System
System Width
1200 mm
Fixture Actuation
形状
最大ノード・カウント
Max Parallel Testing
System Type
System Width
Press down
Complete Test System
3456
1
Offline System
1200 mm
さらに表示
Fixture Actuation:
Press down
形状:
Complete Test System
最大ノード・カウント:
3456
Max Parallel Testing:
1
System Type:
Offline System
System Width:
1200 mm
タイプ:
ICT System
U9401Bに関心を持っていただけましたか。
注目のリソース
ご要望、ご質問はございませんか。