ハイライト

包括的な測定/デバッグソリューション

  • OIF-CEI-4.0で定義されたCEI-56G-VSR/MR/LR TX設計の特性評価
  • 約100のテストを実行
  • 主な測定には、ジッタ、アイリニアリティー、SNDR、アイ開口部 (EW6, EH6),、リターンロス があります

柔軟で拡張可能

  • N1000A/86100D DCA-Xオシロスコープ、もしくはN109x DCA-MにUSB接続したPCで動作します。
  • 自動HTMLレポート生成
  • コンプライアンス・リミットまたはカスタム・リミットに対して全てのパラメータまたは選択したパラメータをテスト

互換性

  • N1000A DCA-X メインフレーム
  • 86100D DCA-Xのメインフレーム
  • N109X DCA-M オシロスコープ
  • N107X クロックリカバリー

キーサイト N109256CB TXテスト・アプリケーションは、N1000A/86100D DCA-XまたはN109X DCA-Mシリーズ・オシロスコープと組み合わせて使用することで、PAM4測定を迅速かつ正確に実行できます。

  • CEI-56G-VSR (参照 OIF2014.277.08 NRZ,、OIF-CEI-4.0 PAM4)
    • セクション15.3.2 TP1aでホストからモジュールへ 表 15-1 (NRZ)
    • セクション15.3.3 TP4でモジュールからホストへ 表 15-4 (NRZ)
    • 付録 15.B.1.1 TP0aでホストからモジュールへ 表 15-9 (NRZ)
    • セクション15.3.2 TP1a(ホスト出力)でのホストからモジュールへの接続、表 16-1 (PAM4)
    • セクション16.3.3 TP4 (モジュール出力)でモジュールからホストへ 表 16-4 (PAM4)
    • 付録 16.B.1.1 TP0aでホストからモジュールへ 表 16.10 (PAM4)
  • CEI-56G-MR (参照 OIF-CEI-4.0)
    • セクション 17.3.1、表 17-2 と 17-3 (MR-PAM4)
  • CEI-56G-LR (参照 OIF-CEI-4.0)
    • セクション 21.3.1、表 21-2、21-3 (LR-PAM4)

N109256CBは、以下を実現する使い易いTXテスト・アプリケーションです。

  • 規格の詳細の理解にかかる時間を短縮
  • PAM4とNRZ設計の特性評価にかかる時間を数時間から数分に短縮
  • カスタム構成を使用してデバイスのデバッグをサポート
  • デバイスの性能を要約したHTMLレポートを迅速に生成

主な測定には以下のようなものがあります。

  • UUGJ、BUJ、偶数奇数のジッタ (EOJ)を含むジッタ測定
  • 定常電圧(Vf)、リニアフィットパルスピーク、信号対雑音と歪み(SNDR)などの出力波形の測定
  • 遷移時間
  • アイ幅 (EW6) とアイ高 (EH)、遠端と近端
  • リターン・ロス

アプリケーションの対象となる特定のテストの包括的な最新リストについては、N109256CB .exe を PC にダウンロードおよびインストールし(「試用版とライセンス」のタブをクリック)、アプリケーションを「デモモード」で実行してください。 「デモモード」でソフトウェア・アプリケーションを実行する場合は、ライセンス(ハードウェア)は必要ありません。

無料の試用版

N109256CB TX テスト・アプリケーション・ソフトウェアおよび30日間の試用ライセンス

  • ソフトウェアの30日間無料試用版のご請求
  • PCでアプリケーションを実行可能
  • 全機能を制限なしで評価可能

ご要望、ご質問はございませんか。