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고급 스루풋 승수 기능을 사용하면 4모듈 테스터에서 최대 1000~2000 노드(1296~2592 노드) 회로를 두 개까지 동시에 테스트할 수 있어 테스트 시간이 절반으로 줄어듭니다.

주요 특징

i3070 회로 내 테스트 시스템 아키텍처는 모듈 4개로 분할됩니다. 각 모듈은 나머지 모듈과 병렬로 테스트를 실행할 수 있어 인쇄 회로 기판을 한 번에 4개까지 테스트할 수 있습니다.

각각 노드가 1,000개 이상인 동종(동일한) 회로를 테스트해야 할 경우, 고급 스루풋 승수 기능을 사용하여 모듈 2개를 결합할 수 있습니다. 그러면 4모듈 테스터에서 최대 1000~2000 노드(1296~2592 노드) 회로를 두 개까지 동시에 테스트할 수 있어 테스트 시간이 절반으로 줄어듭니다.

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