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Sistemas de prueba paralelos
Pruebas escalables y flexibles para conjuntos de placas complejos
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Analizadores de barrido de contornos
Aislamiento eficiente de fallos con precisión a nivel de pin
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Sistemas de pruebas funcionales
Sistema integrado de pruebas funcionales para obtener resultados de producción fiables.
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Sistemas de prueba en circuito
Detección precisa de fallos en placas de alta densidad
Sistemas de prueba paralelos
Los sistemas de pruebas en paralelo de Keysight ofrecen soluciones versátiles y escalables para los diversos requisitos de pruebas de fabricación. El Advanced ofrece una plataforma compacta y rentable para las pruebas de placas de circuito impreso (PCB) de señal mixta, con capacidades analógicas, digitales y de escaneo de límites integradas. Simplifica el desarrollo y la integración de las pruebas, lo que lo hace ideal para entornos de producción ajustada. El Expert ofrece un rendimiento inigualable para aplicaciones exigentes con miles de canales de prueba simultáneos, una arquitectura modular y una cobertura completa, que incluye pruebas en circuito, de escaneo de límites y funcionales. Este sistema destaca en la fabricación de alta variedad y gran volumen, proporcionando diagnósticos rápidos y una integración perfecta con la automatización. Explore nuestra amplia gama de sistemas de pruebas paralelas, desde niveles de rendimiento avanzados hasta expertos, para encontrar el más adecuado para su aplicación. ¿Necesita ayuda para elegir? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Advanced
Expert
Analizadores de barrido de contornos
Los analizadores de escaneo de límites de Keysight ofrecen capacidades avanzadas de prueba digital para placas de alta densidad, lo que permite aislar fallos con precisión sin necesidad de acceder físicamente a la sonda. El sistema está diseñado para realizar pruebas estructurales eficientes y proporciona diagnósticos rápidos de interconexiones, cortocircuitos, circuitos abiertos y fallos de bloqueo en conjuntos digitales complejos. Con una integración perfecta en los sistemas de pruebas funcionales y en circuito, el escaneo de límites es compatible con las cadenas de escaneo basadas en JTAG. Permite el acceso a redes de difícil acceso, lo que reduce el tiempo de desarrollo de las pruebas y mejora la cobertura. Explore nuestro escaneo de límites para encontrar el que mejor se adapte a su aplicación. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Sistemas de pruebas funcionales
Los sistemas de pruebas funcionales de Keysight ofrecen una solución modular y flexible para probar conjuntos electrónicos complejos. Con mediciones de precisión, conmutación de alta densidad, suministro de energía configurable y adquisición de señales sincronizada, el sistema es compatible con una amplia gama de aplicaciones analógicas, digitales y de señal mixta. La automatización integrada y la supervisión en tiempo real agilizan el desarrollo de las pruebas y mejoran la cobertura, lo que lo hace ideal para validar dispositivos como ECU automotrices, controladores industriales y placas integradas. Explore nuestra amplia gama de sistemas de pruebas funcionales para encontrar el más adecuado para su aplicación. ¿Necesita ayuda para seleccionar uno? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Sistemas de prueba en circuito
Los sistemas de pruebas en circuito de Keysight proporcionan soluciones escalables y de alto rendimiento para probar placas de circuito impreso complejas y densamente pobladas en la fabricación de gran volumen. Con configuraciones de pines flexibles, compatibilidad con escaneo de límites, capacidades de prueba sin vectores y mediciones analógicas programables, estos sistemas garantizan una detección rápida y precisa de fallos de montaje, como defectos de soldadura, componentes mal orientados y valores erróneos. Los diagnósticos integrados, las herramientas intuitivas de desarrollo de pruebas y la integración preparada para la automatización agilizan los flujos de trabajo de producción, al tiempo que reducen las falsas alarmas y mejoran el rendimiento en la primera pasada. Explore nuestra amplia gama de sistemas de prueba en circuito para encontrar el que mejor se adapte a su aplicación. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Impulsando la confianza en las pruebas electrónicas para automóviles
La electrónica automotriz requiere pruebas precisas y exhaustivas para garantizar su fiabilidad y seguridad. Los sistemas de pruebas en circuito de Keysight ofrecen características clave como mediciones de baja corriente, pruebas de supercondensadores, diagnósticos de LED y detección rápida de cortocircuitos, que son ideales para módulos como ECU, controladores de motor y placas de sensores. Las soluciones de alto rendimiento prueban de manera eficiente placas compactas en paralelo, mientras que las herramientas de exploración de límites mejoran la cobertura de los nodos inaccesibles. Juntas, estas herramientas garantizan el rendimiento y la calidad en la electrónica automotriz de alta y baja complejidad.
Explore el software y los accesorios compatibles con su solución de pruebas en circuito para la fabricación.
Elija entre una amplia gama de software de pruebas en circuito para la generación optimizada de programas de pruebas, el diagnóstico avanzado de fallos y una mayor cobertura de pruebas. Complemente su sistema ICT con accesorios como kits de fijación, módulos de sonda, herramientas de exploración de límites, conjuntos de cables, placas sensoriales, sondas individuales y mucho más.
Explore las pruebas en circuito para casos de uso en fabricación.
Pruebas en circuito para la fabricación: compatibles con una amplia gama de pruebas en diversos sectores. Descúbralas todas.
Fabricación
Cómo realizar mediciones de baja corriente en PCBAs
Integre una unidad de medición de fuente en el comprobador en circuito.
Fabricación
Cómo integrar un comprobador en circuito en la Industria 4.0
El comprobador en circuito y IPC-CFX hacen posibles las fábricas de la Industria 4.0.
Fabricación
Cómo acelerar las pruebas cortas en nodos de alta impedancia
Implementar el algoritmo mejorado para pruebas cortas en un sistema de pruebas en circuito para mejorar el tiempo de prueba en pruebas cortas.
Servicios y asistencia
Innovar rápidamente con planes de asistencia personalizados y tiempos de respuesta y resolución priorizados.
Obtenga suscripciones predecibles basadas en arrendamiento y soluciones completas de gestión del ciclo de vida, para que pueda alcanzar sus objetivos empresariales más rápidamente.
Disfrute de un servicio superior como suscriptor de KeysightCare y obtenga una respuesta técnica comprometida y mucho más.
Asegúrese de que su sistema de pruebas funcione según las especificaciones y cumpla con las normas locales y globales.
Realice mediciones rápidamente con formación interna impartida por instructores y aprendizaje electrónico.
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Preguntas más frecuentes
Las pruebas en circuito (ICT) son fundamentales para verificar la calidad eléctrica y estructural de las placas de circuito impreso (PCB) inmediatamente después de la fase de montaje. Garantizan que todos los componentes, como resistencias, condensadores, diodos y circuitos integrados, estén correctamente colocados, orientados y soldados a la placa. Esto incluye la comprobación de circuitos abiertos, cortocircuitos, componentes faltantes o incorrectos y juntas de soldadura defectuosas. Al identificar estos defectos antes de aplicar la alimentación, las ICT reducen el riesgo de dañar los componentes y evitan que las placas defectuosas avancen en la línea de producción. Este enfoque proactivo de las pruebas mejora el rendimiento y la fiabilidad del producto y reduce significativamente los costes de reparación y reelaboración, lo que contribuye a unas operaciones de fabricación más eficientes y fiables.
Las pruebas en circuito (ICT) y las pruebas funcionales tienen diferentes propósitos en el proceso de fabricación de PCB. Las ICT se realizan en una placa sin alimentación utilizando un sistema de fijación tipo «bed-of-nails» o un sistema de sonda voladora. Aísla eléctricamente cada componente para comprobar que la colocación, la orientación, el valor y la integridad de la soldadura sean correctos. Esta prueba identifica rápidamente defectos estructurales como aperturas, cortocircuitos, componentes incorrectos y problemas de soldadura antes de aplicar la alimentación, lo que minimiza el riesgo y el coste de reparación.
Por otro lado, las pruebas funcionales se realizan después de las pruebas ICT y se enciende la placa para simular su entorno operativo real. Estas pruebas validan el comportamiento de la placa, comprobando que las entradas y salidas respondan correctamente, que los microcontroladores ejecuten el código y que las funciones a nivel del sistema funcionen según lo esperado. Esta prueba verifica el rendimiento, la sincronización y la interacción entre los componentes, algo que las pruebas ICT no pueden detectar.
En resumen, las TIC garantizan que la placa esté correctamente construida, mientras que las pruebas funcionales garantizan que funcione correctamente. Ambas son complementarias y a menudo se utilizan conjuntamente para garantizar una alta cobertura de pruebas y un rendimiento fiable del producto.
Por supuesto. Las pruebas en circuito (ICT) están diseñadas específicamente para entornos de fabricación de gran volumen. Ofrecen pruebas rápidas, repetibles y automatizadas, lo que las hace ideales para líneas que producen cientos o miles de placas de circuito impreso (PCB) al día. Los dispositivos de prueba están diseñados para una carga rápida y segura de las placas, mientras que las secuencias de software automatizadas controlan el proceso de prueba con una intervención humana mínima. Los tiempos de prueba típicos oscilan entre unos pocos segundos y menos de un minuto por placa, lo que permite un rápido rendimiento. Su alta cobertura de fallos y sus resultados consistentes garantizan la eficiencia de la producción y la calidad del producto a gran escala.
Las placas de circuito impreso modernas son cada vez más complejas, con mayor densidad de componentes, factores de forma más pequeños y el uso generalizado de la tecnología de montaje superficial (SMT) y los diseños multicapa. Estas tendencias limitan el acceso físico para las pruebas, hay menos almohadillas de prueba disponibles para las sondas y los componentes densamente empaquetados dificultan el diseño de los accesorios. Además, las pruebas ICT no pueden evaluar eficazmente los dispositivos programables, los circuitos integrados cifrados o los componentes con acceso eléctrico limitado o nulo (por ejemplo, BGA o pasivos integrados). Como resultado, las pruebas ICT a menudo deben complementarse con pruebas de escaneo de límites o pruebas funcionales para lograr una cobertura completa.
Las pruebas en circuito (ICT) mejoran la calidad de la fabricación al detectar defectos de montaje en una fase temprana de la producción, antes de que se aplique alimentación a la placa. Al verificar la correcta colocación, orientación e integridad eléctrica de los componentes, las ICT evitan defectos latentes que podrían causar fallos intermitentes en el campo. Su naturaleza automatizada y repetible garantiza una inspección coherente en la producción de gran volumen, lo que reduce la variabilidad. Al identificar los componentes que faltan, los puentes de soldadura y los valores incorrectos, las ICT ayudan a mantener la fiabilidad del producto, reducen las tasas de reelaboración y contribuyen a un mayor rendimiento y satisfacción del cliente.