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x1149 바운더리 스캔 분석기
바운더리 스캔 / JTAG 기술에 대한 IEEE 1149.x 표준 기반의 전기 구조 테스트 및 프로그래밍 도구.
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주요 특징
x1149 바운더리 스캔 분석기 - 사용하기 쉽지만 다양한 기능을 갖춘 보드 테스트 도구
엔지니어들은 x1149를 활용하여 PCBA에서의 개방 및 단락 테스트 같은 구조적 테스트를 수행할 수 있습니다. FPGA(Field Programmable Gate Array) 및 CPLD(Complex Programmable Logic Device)와 같은 디바이스를 위한 시스템 내 프로그래밍도 수행합니다.
또한 x1149는 PROM(Programmable Read-Only Memory) 디바이스를 프로그래밍하며 DDR SDRAM(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random-Access Memory)과 같은 디바이스에서 메모리 검증 테스트를 실행합니다. 따라서 시스템 내에서 이러한 디바이스를 프로그래밍하고 다시 프로그래밍할 수 있어 개발 중 유연성과 제어력이 개선됩니다. 고급 테스트 기능과 사용자 친화적인 소프트웨어를 갖춘 키사이트 x1149는 필요한 모든 회로 보드 테스트에 적합한 솔루션입니다.
x1149 2.1의 특징
- IEEE 표준
- 1149.1-2013(신규)
- 1149.6-2015(신규)
- 1149.1-2001
- 1149.6-2003
- 1687-2014
- Insert Source Language(ISL) 2.0을 사용한 맞춤형 테스트
- Autobank 및 Scan Path Linker 지원
- 1149.1 및 1149.6-2015 표준을 위한 새로운 BSDL 확장
- 1149.1 및 1149.6 표준 모두에서 IP 패키지 및 프로그래밍 가능 기능에 대한 더 뛰어난 지원과 유연성
테스트 개발
- 커넥터 및 비바운더리 스캔 IC에 대한 테스트 커버리지 극대화
- 뛰어난 디버그 도구
- 유용한 핀 레벨 장애 보고
- 시스템 내 프로그래밍
어플리케이션
- Netcom, 서버 제품 및 자동차 고객을 위한 뛰어난 테스트 커버리지
- 보드 테스트 및 임베디드 계측 테스트를 위한 IEEE 1687 솔루션
- Scan Path Linker의 자동 구성
주요 사양
적합한 x1149 소프트웨어 구독을 찾아보십시오
키사이트 x1149 2.0의 새로운 소식
새로운 IEEE 1149.1-2013 표준을 활용하면 다음과 같은 테스트 기능을 통해 테스트 커버리지를 약 75% 높일 수 있습니다:
- 니모닉 등록
- IC 재설정 제어
- 콤포넌트 초기화 메커니즘
- 세그먼트 바운더리 스캔 레지스터
- 전력 도메인 지원
- 테스트 모드 지속성
- 전자 칩 식별(ECID)
- 절차적 기술 언어(PDL)
이제 2.1 버전에 IEEE 1149.6-2015에 대한 컴플라이언스 테스트가 추가되었습니다.
IEEE 1149.6-2015는 1149.6 표준의 최신 버전입니다. 이 1149.6 버전은 초고속(1+Gb/s) 디지털 데이터 경로에서의 차동 상호연결과 향상된 AC 커플링 커패시터 감지에 초점을 맞춥니다. 이 표준에 포함된 테스트 유형은 interconnect dot 6, bus wire dot 6, shorted cap dot 6입니다.
IEEE 1149.1-2013 및 1149.6-2015를 준수하면 다음과 같은 이점이 있습니다.
- 보드와 시스템 테스트 비용 절감.
- 높은 진단 분해능에, 고도로 자동화된 방식으로 테스트 준비, 실행 및 해석.
- 디바이스에 사용된 파라미터와 특성 차이에 관계없이 테스트 도중 여러 벤더의 디바이스를 쉽게 조작 가능.
x1149 바운더리 스캔 분석기의 역량 확대
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